膜厚測試儀,膜厚儀X-Strata920系列具有高性價價比，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準、測量時間短等特點；具有高生產力、高再現性，能有效控制產品質量，節約電鍍成本。
膜厚測試儀,膜厚儀X-Strata920工作特點：
- 測量精度高、穩定性好，測量結果精確至μin
- 快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果
- 可定性、半定量和定量分析
- 進行貴金屬檢測，如Au karat評價
- 材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析
- 強大的數據統計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
- 結果輸出：直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件；報告包含數據、圖像、統計圖表、客戶信息等
- 測量位置預覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統，標準光學放大倍數為30倍
- 激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標，Z軸自動掃描，鐳射聚焦
儀器參數
型號 | P920-S | P920-MWS | P920-MWM | P920-AM |
名稱 | 半自動 | 自動臺 |
固定臺 | 單準直器加深臺 | 多準直器加深臺 |
樣品圖片 | 
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測量元素范圍 | Ti22---U92 |
鍍層和成分分析 | - 鍍層：zui多同時測定5層（4層鍍層 基體材料）鍍層
- 成分：zui多同時測量25種元素
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測量方法 | - SmartLinkâFP（基本參數法）
- 儀器預裝超過800種應用參數/方法
- 簡單直觀步驟建立應用
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X射線激發 | - 50kV、1.0mA(50W)
- 空冷式微聚焦W靶X射線管，Be窗
- 垂直下照式X射線光學系統
- 安全防射線光閘
- 二次濾波組件，可選三個程控交換的濾波器，有效于X射線重疊譜的修正
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成像系統 | - 彩色視頻系統
- 光學放大：30倍，可選項50倍
- 數字放大200%
- 激光自動對焦
- 被測樣品圖像實時顯示功能
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計算機系統 | - In Core i3-3240 3.40GHz，內存2G，硬盤500G，DVD光驅
- 17吋液晶彩色顯示器
- MicrosoftTM Win7 32bit
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樣品臺規格 | | - 測量樣品高度≤160mm
- 樣品倉內部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm
- 樣品倉抽屜式設計，4個位置上下可調，每格高度25.4mm
- 自定義樣品臺：可依據客戶要求提供更高的樣品臺，滿足樣品高度＞160mm的測量
| - 測量樣品高度≤33mm
- X-Y軸行程：寬×深178×178mm
- 樣品臺尺寸：寬×深610×560mm
- 自動送樣，無人自動測量
- 對樣品編程控制，自動多點測試和重復測試
- 鼠標控制樣品臺精確定位樣品
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儀器外形 寬×深×高 | 407×770×305mm | 407×770×400mm | 610×1037×375mm |
Z軸 | 使用鼠標控制，程控移動距離43mm |
準直器規格 | - 可選單準直器、多準直器
- 多準直器程控交換
- 可選園形、矩形準直器
- 園形準直器：Ø0.1、Ø0.15、Ø0.2、Ø0.3、Ø0.33、Ø0.5mm
- 矩形準直器：0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.051x0.254、0.102x0.406mm
- 單準直器標配：Ø0.3mm
- 雙準直器標配：Ø0.1、Ø0.3mm
- 四準直器標配：Ø0.15、Ø0.3、0.05x0.05、0.051x0.254mm
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探測器 | 正比例計數器 |
工作原理 | 對被測樣品發射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析 |
安全性 | - 自動鎖定功能，防止未授權的操作
- 簡單用戶界面只向日常操作員設定有限的授權
- 主管人員可進行系統維護
- 系統自動生成操作員的使用記錄
- Z軸保護傳感器
- 安全防射線光閘
- 樣品室門開閉傳感器
- X射線鎖
- X射線警示燈
- 緊急停止按鈕
- 前面板安全鈕和后面板安全鎖
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結果輸出 | - 直接打印
- 一鍵導出到PDF文件、Excel文件（選配）；
- 自定義報告模板，報告包可含數據、圖像、統計圖表、客戶信息等；
- 統計數據、圖、表含有平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖等
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